概要


非破壊観察
概要
マイクロフォーカスX線CTによるX線透視、X線CT観察を行います。
光学顕微鏡や、走査型電子顕微鏡(SEM)のように、観察面を切り出すなどの加工をすることなく、非破壊で内部構造を観察できます。
大きなアルミニウムダイキャストや、小さな鉄製品、電気・電子機器の機械的な構造・形状の観察には、高出力で焦点寸法がマイクロフォーカスの SMX-225CT FPD HR、樹脂製品などの材料の微細な構造や、電子部品内部の欠陥の高倍率の観察には、低い電圧で、より小さい焦点寸法のSMX-100CTが適しています。
走査型超音波顕微鏡(Scanning Acoustic Microscope)による観察を受託しています。
X線CTによる観察では困難だった構造や欠陥(剥離、クラック、ボイド)などの観察が可能です。
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20220125
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