JavaScriptが無効です。
当サイトでは、JavaScriptを使用しています。お使いのブラウザでJavaScriptが有効になっていることをご確認ください。
ガスクロマトグラフ(GC)
四重極型ガスクロマトグラフ質量分析計(GC-MS)
トリプル四重極型ガスクロマトグラフ-質量分析計(GC-MS/MS)
熱分解-ガスクロマトグラフ質量分析装置(PY-GCMS)
熱脱着コールドトラップ-ガスクロマトグラフ質量分析装置(TD-GCMS)
液体クロマトグラフ(LC)
液体クロマトグラフ-質量分析計(LC-MS)
液体クロマトグラフ-タンデム質量分析計(LC-MS/MS)
液体クロマトグラフトリプル四重極型誘導結合プラズマ質量分析装置(LC-ICP-MS/MS)
イオンクロマトグラフ(IC)
におい嗅ぎ-ガスクロマトグラフ質量分析装置
におい識別装置(FF)
誘導結合プラズマ発光分光分析装置(ICP-OES)
誘導結合プラズマ質量分析装置(ICP-MS)
トリプル四重極型誘導結合プラズマ質量分析装置(ICP-MS/MS)
液体クロマトグラフ誘導結合プラズマ質量分析装置(LC-ICP-MS)
燃焼-イオンクロマトグラフ(燃焼-IC)
加熱気化原子吸光分析装置(AAS)
原子吸光分析装置(AA)
エネルギー分散型蛍光X線分析装置(EDX)
微小部エネルギー分散型蛍光X線分析装置(μEDX)
エネルギー分散型X線分析走査型電子顕微鏡(SEM-EDS)
走査型プローブ顕微鏡(SPM)
走査型電子顕微鏡(SEM)
走査型共焦点レーザー顕微鏡(OLS)
X線CTシステム(XCT)
超音波顕微鏡(SAM)
高速度ビデオカメラ
レーザー回折式粒子径分布測定装置
比表面積／細孔分布測定装置
比表面積測定装置
細孔分布測定装置（水銀ポロシメータ）
乾式自動密度計
ゼータ電位・粒子径・分子量測定装置
濡れ性評価装置
音叉型振動式粘度計
示差走査熱量計(DSC)
微小強度評価試験機
微小圧縮試験機
精密万能試験機
疲労耐久試験機
高速引張試験機
パンクチャー衝撃試験機
ダイナミック超微小硬度計
X線回析装置(XRD)
フーリエ変換赤外分光光度計(FTIR)
顕微レーザーラマン分光計
お問い合わせ・資料請求フォーム
お見積り・分析依頼フォーム
ご依頼の流れ
分析依頼票ダウンロード
