業務案内
ご依頼の手順 TEL/FAXでのお問合せ メールでのお問合せ 分析依頼票のダウンロード
トップ >  業務案内 > 分析テーマ 非破壊観察
非破壊検査
●X線CT観察 ●超音波顕微鏡観察
 
X線CT観察
マイクロフォーカスX線CTによるX線透視、X線CT観察を行います。
光学顕微鏡や、走査型電子顕微鏡(SEM)のように、観察面を切り出すなどの加工をすることなく、非破壊で内部構造を観察できます。
大きなアルミニウムダイキャストや、小さな鉄製品、電気・電子機器の機械的な構造・形状の観察には、高出力で焦点寸法がマイクロフォーカスの SMX-225CT FPD HR、樹脂製品などの材料の微細な構造や、電子部品内部の欠陥の高倍率の観察には、低い電圧で、より小さい焦点寸法のSMX-100CTが適しています。


  クイック・レスポンス 各種フォーマットでの画像データ出力
    GPUコンピューティングによる高速演算処理   静止画スライス画像:BMP形式(8bit)、TIFF形式(16bit)等
    立会試験(当日、画像データお持ち帰り可能)    動画:2次元スライス画像の動画(ページング法)
  画像データの解析    動画:3次元ボリュームレンダリング画像
    測長、面積、体積比較(要補正)、色づけ等        WMP形式(ビデオ)、QuickTime(インタラクティブ)
             ボリュームデータ:STL形式、DICOM形式

inspeXio SMX-225CT FPD HR
 生体試料・樹脂〜電子部品
 まで対応

 小型〜大型試料まで観察可能
見えないものをリアルに表現できる高解像度高コントラスト
inspeXio SMX-225CT FPD HR
<装置仕様>
FOV(XY):
  最大およそφ400mm高さ(1視野)200mm
  最小およそφ5mm高さ4mm
管電圧:およそ70〜225kV
<測定対象分野>
  電子・電機、自動車、
文化財、樹脂ゴム、電池
電子基板
電子基板
アルミダイキャストアルミダイキャスト


inspeXio SMX-100CT

  軟素材の観察が得意

<装置仕様>
FOV(XY):
  最大およそφ90mm高さ80mm
  最小およそφ5mm高さ4mm
管電圧:およそ40〜100kV
<測定対象分野>
  電子・電機、自動車、樹脂・ゴム、
生体、医薬品、食品
 
GFRP材

マウス大腿骨


 ※技術情報の「非破壊観察」もご覧ください。
 
[any value]
超音波顕微鏡観察
走査型超音波顕微鏡(Scanning Acoustic Microscope)による観察を受託しています。
X線CTによる観察では困難だった構造や欠陥(剥離、クラック、ボイド)などの観察が可能です。

<特徴>
  水平・平滑なサンプルが観察対象となります。   走査型超音波顕微鏡
  トランスデューサがサンプル表面付近まで近づき、走査します  
    ので、突起物が周辺にある場合は観察の障害となります。  
  観察可能な範囲は表面近傍のみとなります。  
  走査範囲は 最小250μm×250μm  
      最大320mm×320mm  です。  
  水中にサンプルをセットします。  
  大きなサンプル等は切断等の加工が必要な場合があります。  
    (X線CT観察も同じです)  
       

<測定事例>
製品の構造や欠陥の観察
出荷品の点検
金属板、薄い鋳物、樹脂等の亀裂、剥離、接合部の観察
パッケージの封止状況確認
接着剤、粘着テープ等の接着性観察
サンプル表面近傍の測定イメージ
  サンプル表面近傍の測定イメージ
<観察例>
半導体内部   容器封止部分
半導体内部   容器封止部分

 ※技術情報の「非破壊観察」もご覧ください。
[any value]
page top
[any value]