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デジタル画像相関法(DIC解析・非接触変形計測)

概要

DIC解析とは

DIC解析とは、デジタル画像相関法(Digital Image Correlation)の略で、試験片表面にスプレーなどで塗布したランダムパターンと呼ばれる模様の変化を画像解析することで、表面ひずみ分布の時間的変化を解析する手法です。

DIC解析の特徴

ランダムパターン

DIC解析は、自動車分野、航空分野、電気電子分野などを始めとするさまざまな産業用途で活用されています。

金属、樹脂、複合材料(CFRP、GFRPなど)はもちろん、ひずみゲージの貼付が困難なフィルムなどにも有効です。

また、2台のカメラで撮影することにより3次元的に変形を捉えることができ、凹凸がある試験片や複雑な形状の実製品であっても非接触でひずみ解析することが可能です。

CAE解析などシミュレーション分野においても、解析結果の検証と妥当性確認(Validation & Verification)に応用されています。

DIC解析のデータ出力例

表面ひずみ分布のカラーマップ化

仮想ひずみゲージ、仮想伸び計による任意の位置のひずみ出力

試験力、応力、ひずみゲージなどの波形をDIC解析結果と同期

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分析・試験装置

 

カメララインナップ

 
GOM ARAMIS Pro 3D Camera
    Photron       FASTCAM mini AX200
  Shimadzu       Hyper Vision HPV-X2
  GOM ARAMIS Pro 3D Camera Photron FASTCAM mini AX200 Shimadzu Hyper Vision HPV-X2
撮影速度(fps) ~25 ~200,000 ~10,000,000
3次元DIC解析
解像度(画素数) 2,752×2,200 (600万画素) 1,024×1,024 (104万画素(6400fpsまで))
※高速度撮影になると解像度低下
400×250 (10万画素)
撮影枚数 800 フレキシブル 128
メリット 3次元DIC解析ソフトウェア 解像度・撮影枚数をフレキシブルに調節可能 超高速度撮影
さまざまなカメラ、レンズをとりそろえていますので撮影速度や視野は柔軟に調整可能です。
詳細は当社担当者までお問い合わせください。
 
さまざまなカメラ、レンズをとりそろえていますので撮影速度や視野は柔軟に調整可能です。
詳細は当社担当者までお問い合わせください。
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動画

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