μEDXによるマッピング測定

2013年11月19日更新

概要

　エネルギー分散型微小部蛍光X線分析装置μEDX-1200を用いてマッピング測定を行いました。元素マッピングでは、元素を指定し、多元素を同時にマッピング測定することが可能です。

　写真のコンクリートコア（切断、包埋、研磨したもの）について、主要元素（Si，K，Ca，Fe）のマッピング測定を行いました。

試料	SiKα像	KKα像
CaKα像	FeKα像

　写真の箸置について、青枠内の主要元素（Cr，Fe，Co，Pb）のマッピング測定を行いました。

試料	CrKα像	FeKα像
CoKβ像	PbLα像	光学顕微鏡写真（拡大）

　写真のマイクロSDカードについて、黄色枠内の主要元素（Ni，Cu，Br，Ba，Au）のマッピング測定を行い、同時に透過X線像も撮像しました。