赤外顕微鏡(FT-IR)によるマッピング測定

2016年06月14日更新

概要
分析・試験事例
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概要

　赤外分光光度計は、赤外顕微鏡を用いたマッピング測定により、試料表面の各成分の分布状態を測定することができます。試料の顕微鏡画像上にマッピングする範囲を設定し、データを収集していきます。

分析・試験事例

(1) 金属表面の印字物

　金属表面に印字された赤色部位のマッピング測定を行いました。
　図1に示す金属表面(部位A)と印字部分(部位B)の赤外吸収スペクトルを図2、3に示します。
　印字部分からはインク由来の吸収スペクトルが得られました。特徴的な1678cm^-1のピークについて下記の測定条件でマッピング測定を行いました(図4)。図1の顕微鏡画像中の×(緑色)が各測定点です。

図1　顕微鏡画像(マッピング設定画面)

マッピングエリア

図2　部位A (金属表面)のFT-IRスペクトル

図3 部位B(印字部分)のFT-IRスペクトル

図4　部位B(印字部分)のマッピング分析結果(1678cm^-1)

スペクトル測定条件

測定面積	50μm×50μm
波数範囲	700cm^-1～4000cm^-1
測定方法	顕微反射法

マッピング条件

測定面積	1200μm×1200μm
波数範囲	625point
測定方法	1678cm^-1

(2) 金属表面の汚れ、付着物の測定

　金属表面の汚れ部分のマッピング測定を行いました。金属表面の汚れ部分は、FT-IR測定の結果、シリコーン由来のスペクトル(図6：部位C)、脂肪酸由来のスペクトル(図7：部位D)が確認されました。
　そこで各成分に特徴的にみられるピークを用いてマッピングを行いました。これらのマップ(図8、図9)より、各成分の分布状態がはっきりと分かります。