概要
スポット溶接部の断面観察
2013年05月27日更新
概要
走査型電子顕微鏡（SEM）を用いて携帯電話用リチウムイオン二次電池内部負極端子のスポット 溶接部の断面観察及びEDSによる元素マッピングを行ないました。
試料
携帯電話用リチウムイオン二次電池内部の負極端子
ニッケルメッキ鋼板にニッケル薄板をスポット溶接したものです。
分析・試験結果
■SEM観察結果
SEMによる観察部位を、X線CTのスライス画像上に表示します。
ピンクの枠内がSEMによる断面観察部位です。
X線CTによる電池内部のスライス像
■EDSによる面分析
反射電子像(BEI)を2倍率（×150，×500）観察後に、定性分析で検出された主要な2元素（Fe，Ni）について、 元素マッピングを行ないました。その結果、互いの元素の溶け込み具合が把握できます。
| 倍率 ×150 | ||
反射電子（組成）像 |
FeKα |
NiKα |
|
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反射電子（組成）像 |
FeKα |
NiKα |
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