JavaScriptが無効です。
当サイトでは、JavaScriptを使用しています。お使いのブラウザでJavaScriptが有効になっていることをご確認ください。
2013年12月17日更新
概要
試料
分析・試験結果
関連情報
走査型電子顕微鏡(SEM)を用いて引張試験後の試験片の破面観察を行ない、3次元立体像を構築しました。
SUS試験片(引張試験後の破断した試験片)
赤と青のメガネを使うと立体的に見える画像です。
トップビュー
ステレオ表示
3D表示
3Dミックス表示
断面の深さ方向の情報を得ることができます。
表面・形態観察
お問い合わせ・資料請求フォーム
お見積り・分析依頼フォーム
ご依頼の流れ
分析依頼票ダウンロード