background image background image

ろう接品の断面観察

2013年04月22日更新

概要

走査型電子顕微鏡を用いてろう接品の断面観察及びEDSによる元素マッピングを行ないました。

試料

ろう接品 モリブデン合金同士をろう接したものです。

分析・試験結果

 反射電子像(BEI)観察後に、定性分析で検出された主要な4元素(Mo,Au,Pd,Ni)について、 元素マッピングを行ないました。
 その結果、反射電子像で輝度の高い部分はAuリッチになっており、AuとNiは逆の挙動を示すことが判明しました。

bei

反射電子像

mol

MoLα

aum

AuMα

pdl

PdLα

nik

NiKα

 

関連情報