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SEMによる3次元立体観察
走査型電子顕微鏡(SEM)を用いて引張試験後の試験片の破面観察を行ない、3次元立体像を構築しました。
      
■サンプル
 SUS試験片(引張試験後の破断した試験片)
■観察結果
   (1) ステレオ表示
 赤と青のメガネを使うと立体的に見える画像です。
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  (2) 3D表示
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  (3) 断面プロファイル表示
  断面の深さ方向の情報を得ることができます。
  
 断面プロファイル表示