技術情報
ご依頼の手順 TEL/FAXでのお問合せ メールでのお問合せ 分析依頼票のダウンロード
   
トップ > 技術情報 > 表面観察 > ろう接品の断面観察
ろう接品の断面観察
走査型電子顕微鏡を用いてろう接品の断面観察及びEDSによる元素マッピングを行ないました。
■サンプル
 ろう接品   モリブデン合金同士をろう接したものです。

■観察結果および面分析結果
 反射電子像(BEI)観察後に、定性分析で検出された主要な4元素(Mo,Au,Pd,Ni)について、 元素マッピングを行ないました。
 その結果、反射電子像で輝度の高い部分はAuリッチになっており、AuとNiは逆の挙動を示すことが判明しました。

反射電子像   MoLα   AuMα
反射電子像   MoLα   AuMα

PdLα   NiKα  
PdLα   NiKα