background image background image

μEDXによるマッピング測定

2013年11月19日更新

概要

 エネルギー分散型微小部蛍光X線分析装置μEDX-1200を用いてマッピング測定を行いました。元素マッピングでは、元素を指定し、多元素を同時にマッピング測定することが可能です。

分析・試験事例

サンプル1 : コンクリートコア

 写真のコンクリートコア(切断、包埋、研磨したもの)について、主要元素(Si,K,Ca,Fe)のマッピング測定を行いました。

試料

試料

SiKα像

SiKα像

KKα像

KKα像

CaKα像

CaKα像

FeKα像

FeKα像

 

サンプル2 : 箸置き

 写真の箸置について、青枠内の主要元素(Cr,Fe,Co,Pb)のマッピング測定を行いました。

試料

試料

CrKα像

CrKα像

FeKα像

FeKα像

CoKβ像

CoKβ像

PbLα像

PbLα像

光学顕微鏡写真(拡大)

光学顕微鏡写真(拡大)

サンプル3 : マイクロSDカード

 写真のマイクロSDカードについて、黄色枠内の主要元素(Ni,Cu,Br,Ba,Au)のマッピング測定を行い、同時に透過X線像も撮像しました。

試料

試料

NiKα像

NiKα像

AuLα像

AuLα像

BrKα像

BrKα像

BaLα像

BaLα像

CuKα像

CuKα像

透過像

透過像

光学顕微鏡写真(拡大)

光学顕微鏡写真(拡大)

 

関連情報