概要
μEDXによるマッピング測定
2013年11月19日更新
概要
エネルギー分散型微小部蛍光X線分析装置μEDX-1200を用いてマッピング測定を行いました。元素マッピングでは、元素を指定し、多元素を同時にマッピング測定することが可能です。
分析・試験事例
サンプル1 : コンクリートコア
写真のコンクリートコア(切断、包埋、研磨したもの)について、主要元素(Si,K,Ca,Fe)のマッピング測定を行いました。
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サンプル2 : 箸置き
写真の箸置について、青枠内の主要元素(Cr,Fe,Co,Pb)のマッピング測定を行いました。
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サンプル3 : マイクロSDカード
写真のマイクロSDカードについて、黄色枠内の主要元素(Ni,Cu,Br,Ba,Au)のマッピング測定を行い、同時に透過X線像も撮像しました。
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