概要
赤外顕微鏡(FT-IR)によるマッピング測定
2016年06月14日更新
概要
赤外分光光度計は、赤外顕微鏡を用いたマッピング測定により、試料表面の各成分の分布状態を測定することができます。試料の顕微鏡画像上にマッピングする範囲を設定し、データを収集していきます。
分析・試験事例
(1) 金属表面の印字物
金属表面に印字された赤色部位のマッピング測定を行いました。
図1に示す金属表面(部位A)と印字部分(部位B)の赤外吸収スペクトルを図2、3に示します。
印字部分からはインク由来の吸収スペクトルが得られました。特徴的な1678cm-1のピークについて下記の測定条件でマッピング測定を行いました(図4)。 図1の顕微鏡画像中の×(緑色)が各測定点です。
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スペクトル測定条件
マッピング条件
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(2) 金属表面の汚れ、付着物の測定
金属表面の汚れ部分のマッピング測定を行いました。金属表面の汚れ部分は、FT-IR測定の結果、シリコーン由来のスペクトル(図6:部位C)、脂肪酸由来のスペクトル(図7:部位D)が確認されました。
そこで各成分に特徴的にみられるピークを用いてマッピングを行いました。これらのマップ(図8、図9)より、各成分の分布状態がはっきりと分かります。
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スペクトル測定条件
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マッピング条件
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赤外顕微鏡を用いたマッピング測定は、異物や付着物解析にも応用できます。各異物や付着物の情報を可視化することができ、異物や付着物の同定、分布領域の特定が可能になります。
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