概要
構造解析・成分分析(XRD・FTIR・ラマン分光)
概要
高分子材料や、有機化合物、無機化合物の構造解析・成分分析を行います。
X線回折装置(XRD)、フーリエ変換赤外分光分析装置(FTIR)、ラマン分光光度計(Raman)などの各種装置を使用して分析を行います。
高温XRDに関しては、高温X線回折測定のページをご覧ください。
分析・試験装置
物質にX線を照射すると、原子の周りにある電子によってX線は散乱されます。結晶のように原子が規則正しく配列されている場合、散乱されたX線は原子の周期的な配置によって干渉され、特定の方向で強め合う回折と呼ばれる現象を生じます。
X線回折法(XRD)は、この回折が生じる角度(回折角)と強度を回折パターンとして記録し、物質の結晶構造を調べる手法です。
最も一般的に用いられるのは粉末X線回折(pXRD)で、データベース検索による試料中の結晶相同定に用いられます。
当社では5軸ゴニオメーター搭載、高出力9kWのX線回折装置を保有しております。二次元検出器を搭載しており、インプレーン軸により試料面外方向だけでなく試料面内方向にも検出器が可動するのが特徴で、粉末試料のほか薄膜などの結晶方位に配向性のある試料の分析に適しています。
保有装置概要
型式 | : | リガク製 多目的X線回折装置 SmartLab 9kW |
X線源 | : | 回転陰極式Cuローターターゲット (出力:45kV・200mA、9kW) |
光学系 | : | 集中法、平行ビーム法 (薄膜法)、集光ビーム法、微小部測定 |
検出器 | : | 0次元、1次元、2次元検出器(HyPix-3000) |
オプション | : | X-Y可動ステージ、あおり軸可動ユニット インプレーンアーム(5軸ゴニオメーター) キャピラリー回転ユニット(粉末・液体試料の透過測定) 結晶モノクロメーター(高分解能測定) ドーム型加熱ステージ(室温~1100℃) 小角・超小角散乱測定ユニット |
測定項目
● 粉末試料の定性分析
特定の結晶面でへき開する鉱物試料など、反射法による測定では配向性の影響を受ける場合、キャピラリー回転ユニットを用いた透過測定により配向性の影響を抑えた測定が可能です。
● 微小部測定
● 薄膜XRD測定
● in-situ 高温XRD測定
● 極点測定
● X線反射率法(XRR)
● 逆格子マップ測定
逆格子空間で表現することにより、視覚的に結晶の格子定数の揺らぎや結晶面の傾きなどを捉えることができます。
● 小角散乱測定(SAXS)
※アプリケーションズの「 構造解析」をご覧下さい。
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20150217